日本電測densoku便攜式薄膜膜厚計QNIx系列介紹

便攜式膜厚儀，可輕松提高麻煩的膜厚測量的生產效率

QNIx系列產品允許您僅使用超輕型緊湊型儀器和探頭即可測量薄膜厚度，而無需攜帶笨重的薄膜厚度計。
無線測量無需電纜。它有助于將測量數據傳輸到PC，也有助于防止測量過程中掉落事故。

無需進行膜校準即可進行精確的膜厚度測量

出廠時輸入了16點校準數據。這樣就無需進行麻煩的薄膜打樣工作，并且可以進行精確的薄膜厚度測量。

膜厚測量數據傳輸的新技術

在傳統的測量儀器中，測量儀器通過電纜連接到個人計算機以傳輸測量數據。QNIx系列使用“無線加密gou”，只需將其插入USB端口即可進行傳輸。您可以更快，更輕松地瀏覽測量數據。

超輕便的無線測量儀

探頭測得的數據被無線發送到主機。它降低了被電纜卡住，像傳統產品一樣妨礙或導致跌落事故的風險。此外，該探頭重30克，非常輕巧，因此您無需攜帶笨重的儀器。

一種不易折斷且不會在測量對象上留下痕跡的探針。

QNIx系列探頭被增強塑料包圍，耐用性提高了30％。即使發生極少數的故障，拆卸和維修也很容易，因此縮短了維修時間。此外，它配備有紅寶石芯片，可以安全地進行測量，而不會損壞要測量的對象（樣品）。

	QNIx 8500	QNIx 4500/4200	QNIx 7500	QNIx Carcheck系統	QNIx方便
可測量的電影	[F]黑色金屬上的非磁性涂層 [N]黑色金屬上的非導電涂層 [FN]黑色/黑色材料上的非磁性/非導電涂層			[FN]黑色金屬和有色金屬材料上的非磁性和非導電涂層	[FN]鐵/鋁材料上的非磁性/非導電膜厚度
材料識別	黑色金屬和有色金屬的自動識別和交換	黑色金屬和有色金屬的自動識別和交換	用戶的轉換	黑色金屬和有色金屬的自動識別和交換	鐵/有色，自動識別模式轉換
測量原理	[F]磁通量（霍爾效應） [N]渦流
測量范圍	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0至3,000μm	0至2,000μm （可選：5,000μm）	0至5,000μm	0?500微米
zui高分辨率	0.1μm，1μm [M] 0.01μm	1微米	0.1微米	0.1微米，1微米	5微米
配置格式	0點校正用戶校準：1 [M] 100	0點校正	0點校正	沒有校準功能	沒有校準功能
準確度	±（1微米+ 2％） ±3.5％（2毫米或更多） [T] ± （0.3微米+ 2％）	±（2μm+ 3％）	±（1微米+ 3％）	±（1μm+ 2％） ±3.5％（2mm以上）	±（10微米+ 5％）
測量速度	1,500ms （大約40次/分鐘） [T] 920ms （大約65次/分鐘） [R] 1,600ms （大約37次/分鐘）	600ms （約70次/分鐘）	1,300ms （約46次/分鐘）	1,500ms （約40次/分鐘）	600ms （約100次/分鐘）