日本DENSOKU電測電解式膜厚度計CT-3

日本DENSOKU電測電解式膜厚度計CT-3

重量輕，機身小巧

各種電鍍測量的高可操作性和功能性

·輕巧，緊湊的機身，體重3.0kg
·可從任何電鍍范圍測量
·增加了高靈敏度范圍
·校準范圍寬達±15％
·C墊片范圍的標準設備

電解膜厚度計CT-3的特點
輕巧緊湊

輕巧，極其緊湊的機身，體重3.0kg。

增加了高靈敏度范圍

靈敏度可以設置為比以前的型號更高的靈敏度，并且可以提高測量穩(wěn)定性。

廣泛的校準范圍

通過標準板校準的校準范圍寬達±15％。

可以達到1/100的范圍

可以處理Au，Cr等的薄膜電鍍的1/100范圍（以0.001μm為單位的測量）是可能的。

三種類型的墊圈范圍是標準設備

有三種類型的墊圈可供選擇：3.4φ，2.4φ和1.7φ。

主動功能

有源功能可以去除一些氧化膜，從而減少氧化膜引起的測量失敗
我能做到

易于設置范圍

由于使用了所有刻度盤設置，因此可以輕松實現(xiàn)要測量的鍍層的適合設置。

日本DENSOKU電測電解式膜厚計CT-4

0.006至300微米，各種厚度
多層電鍍測量，精度高

·易于操作，易于閱讀的屏幕
·電流精度明顯高于以前
·可以確認測量部件的表面處理方法
·多層涂層可設置多達5種測量條件
·多可注冊50個測量通道

電解膜厚度計CT-4的特點
易于操作，易于閱讀的屏幕

屏幕大，明亮，易于查看，易于操作。

提高電流精度

目前的準確度已得到顯著改善。

可以檢查表面處理方法

您可以檢查測量部件的表面處理方法。

測量條件多可設置為5層

多層涂層可以設置多達5種測量條件。

多可注冊50個頻道

多可以注冊50個測量通道。

可分別測量純錫層和合金錫層

對于純錫層和合金錫層，可以分別測量鍍錫。

自動顯示所用電解質的類型

所用電解質的類型根據(jù)薄膜和基材的組合自動顯示。

內置統(tǒng)計處理功能

通過統(tǒng)計處理功能，可以在屏幕上顯示數(shù)據(jù)。

5種數(shù)據(jù)處理方法

有五種數(shù)據(jù)處理方法。

用日文打印

打印機使用熱敏卷紙，可以用日文打印。

每單位面積的重量計算

您可以計算每單位面積的重量。

日本DENSOKU電測電解式膜厚計GCT-311

Windows規(guī)范，
全功能可測量多達5層

·使用個人計算機，操作簡單，功能增強
- 使用Windows規(guī)范輕松處理數(shù)據(jù)
·多可注冊50個測量通道
·多層涂層可設置多達5種測量條件
·發(fā)生異常值時，以紅色和警告聲音報告測量值。

電解膜厚度計GCT-311的特點
改進了可操作性和增強功能

使用個人計算機可改善可操作性和功能。

輕松的數(shù)據(jù)處理

使用Windows規(guī)范可以輕松進行數(shù)據(jù)處理。

多可注冊50個頻道

多可以注冊50個測量通道。

多層涂層，多5層

多層涂層可以設置多達5種測量條件。

發(fā)生異常值時內置警告功能

當由于上限和下限設置而發(fā)生異常值時，測量值將顯示為紅色并顯示警告聲。

自動顯示所用電解質的類型

所用電解質的類型根據(jù)薄膜和基材的組合自動顯示。

輕松確認顯示處理方法

您可以檢查測量單元的顯示處理方法。

可分別測量純錫層和合金錫層

對于純錫層和合金錫層，可以單獨測量“錫/銅"測量。

輕松測量雙鎳和三鎳之間的電位差

通過使用參比電極（可選）和電位圖測量，可以容易地測量雙鎳和三鎳之間的電位差。