日本DENSOKU電測電阻膜厚度計RST-231

日本DENSOKU電測電阻膜厚度計RST-231

操作簡單，時間短（0.7秒）

高精度測量絕緣體上的金屬薄膜

·在0.7秒內(nèi)測量絕緣體上的金屬膜
·使用PC輕松查看屏幕
·易于校準和測量
- 可以立即查看組件圖和配置文件
·異常值檢測功能

電阻膜厚度計RST-231的特點
在0.7秒內(nèi)測量絕緣體上的金屬膜

在短時間（0.7秒）內(nèi)高精度地測量絕緣體上的金屬膜（絕緣銅箔，電鍍等）。

易于閱讀的屏幕配置

使用PC時，屏幕結構大而明亮，易于查看。

易于校準和測量

易于校準和測量。可以選擇兩種類型的測量范圍（2至24μm，10至120μm）。

可以立即看到各種數(shù)字

統(tǒng)計處理后，立即可以使用直方圖，配置文件和x-R圖表。

異常值檢測功能

如果設置上下薄膜厚度限制，將通知您異常值。

支持每個探頭的更換

如果探頭*損壞，可以更換每個探頭，并且可以低成本進行維修。

易于統(tǒng)計處理

可以為每個通道保存測量數(shù)據(jù)，并且可以稍后為測量數(shù)據(jù)設置統(tǒng)計項以執(zhí)行統(tǒng)計處理。

多可注冊40個頻道

多可注冊40個通道，因此您可以通過用戶名或部件號單獨注冊來管理通道。

支持每個探頭的更換

使用四探針探針（開爾文型），并且可以高精度地測量雙面和多層基板，而不受背面和內(nèi)層的影響。

測定原理

探頭有四個直立的金屬銷（探頭）。使這四個探針與待測量的絕緣體上的金屬箔或金屬電鍍表面接觸。 恒定電流（I）通過兩個外部探針并測量電壓（V）。 接觸探針的金屬箔或金屬鍍層的厚度（T）可以在某些條件下使用下式計算。T = K×I÷V其中K是常數(shù)因此，可以通過測量兩個內(nèi)探針之間的電壓來測量金屬箔或金屬鍍層的厚度。